簡要描述:磁粉探傷專用配件靈敏度試片磁粉試片C型靈敏度試片由日本無損檢測學(xué)會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。
C型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
C型靈敏度試片由日本無損檢測學(xué)會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。
特點:
試片用于磁粉顯示,圖象直觀,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查部位狹小、形狀復(fù)雜的零件時,表現(xiàn)其的優(yōu)點。
性能規(guī)格:
我公司生產(chǎn)的C型標(biāo)準(zhǔn)試片,是一種消耗的調(diào)整磁粉 探傷靈敏度試片,它分為C1型和C2型,它可以在任何幾 何形狀復(fù)雜的工件上探傷,尤其在焊縫的坡口面上及狹小 部分,更能顯示它的優(yōu)點。 C型標(biāo)準(zhǔn)試片相當(dāng)于A型試片中2#試片的靈敏度等同,它的磁化規(guī)范相當(dāng)于8-10D,并可用作鑒定探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷過程中,可以避免誤判或漏檢。C型標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。
本套試片包括:C1: 8/50μ C2: 15/50μ 共六片,分兩組不同規(guī)格的試片組成
使用方法:
1、使用C1型時,沿者分割線,剪開為5x10mm的小片,使用適當(dāng)?shù)碾p面膠帶,或者膠粘劑貼于試樣表面(雙面膠帶厚度要小于100μm)。
2、使用連續(xù)法,顯示磁痕,即是工件所需靈敏度。
3、使用C2型試片時,剪開C字為正,也可不剪開,以缺口為磁場方向,顯示痕跡,即是工件所需靈敏度。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。
注意事項:
1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。